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IC验证与测试

IC验证与测试
IC验证与测试不仅是集成电路设计产业链中的一个关键环节,同时也是产品质量控制、产品不良率分析以及识别无型号标识器件的重要手段。
随着复杂芯片的日益增多,给IC验证与测试提出了越来越高的挑战,现在的大尺寸复杂芯片需要受约束型随机以及覆盖率导向的测试平台,以尽量减少手工编写测试案例的繁重工作,而世纪芯采用利用最新测试平台及验证方法,使验证元件的复用率最高,并且精确评估验证进度,极大的增加了一次性流片成功的机会。
 
世纪芯IC验证测试服务范围:
  ★集成电路测试、筛选:
   集成电路设计验证
   集成电路功能测试、参数测试
   集成电路质量一致性检验
   集成电路老化、筛选试验
       集成电路寿命试验
  ★集成电路可靠性评估:
   ESD等级、Latch-up测试评估
       裸芯片测试、老化、筛选评估
  ★集成电路赝品鉴定:
再卖市场的集成电路赝品鉴定
  ★制造工厂来料质量管理体系完善:
   指导工厂完善来料质量管理体系
   培训质检人员掌握集成电路测试理论与方法
    ★芯片及系统分析验证服务
上千万门级数字集成电路的FPGA原型验证
功能测试
性能测试
版图分析
★分析、建模、验证与测试服务
晶圆
封装片
功能模块
系统板
★芯片工程测试服务    
基于ATE的封装片评测(功能和性能测试)
量产测试方案和程序开发
 
公司地址:深圳市福田区国际科技大厦2603单元
24小时服务热线:0755-83035861
E-mail:pcbasales5@dragonmen.com.cn

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